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X熒光光譜儀技術資料
日期：2025-05-10 20:40
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摘要：
X熒光光譜儀技術資料
2.3 儀器技術指標 |
技 術 參 數 |
1、儀器尺寸：830(W)*530(D)*500(H)mm |
2、 樣品腔尺寸： 小樣品腔：300*300*100mm； 真 空 腔：? 200*40 mm 大樣品腔：無限制，小于30公斤 |
3. 1分鐘真空度可達5Pa |
4、 重量：約100Kg |
5、 工作環境溫度：溫度15—30℃ |
6、工作環境相對濕度：≤70%（不結露） |
7、 可分析元素范圍 ： Al-U（可以檢測無鹵元素Cl和Br） |
8、 *低檢出限：Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm,Pb≤5ppm CL≤250ppm |
9、 測量時間 ：300-500s (系統自動調整) |
10、 *佳分辨率：149±5eV |
11、 輸入電源：AC 220V±10%，50Hz |
11、額定功率：1500W |
三、X熒光光譜儀技術資料儀器硬件部分主體配置
3.1 探測系統 | |
1、探測器 類型：電制冷Si-PIN探測器 (采用PIN結構的高性能電致冷半導體探測器) 型號：X-123 制造商：美國Amptek公司生產 Be窗厚度：1mil(0.0254mm) *佳分辨率：149±5eV 系統峰背比：≥ 5000/1 能量響應范圍：1keV ~ 40keV 推薦計數率：5000cps（DP4 Peaking Time=25.6us） 典型使用壽命：10年 2、信號處理系統 DP4（與探測器高度集成） 放大器增益自動調整； 脈沖成型時間自動調整； MCA通道數*高可達8K； 每一通道總計數可達24位（16.7M） | |
2.3 儀器技術指標 |
技 術 參 數 |
1、儀器尺寸：830(W)*530(D)*500(H)mm |
2、 樣品腔尺寸： 小樣品腔：300*300*100mm； 真 空 腔：? 200*40 mm 大樣品腔：無限制，小于30公斤 |
3. 1分鐘真空度可達5Pa |
4、 重量：約100Kg |
5、 工作環境溫度：溫度15—30℃ |
6、工作環境相對濕度：≤70%（不結露） |
7、 可分析元素范圍 ： Al-U（可以檢測無鹵元素Cl和Br） |
8、 *低檢出限：Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm,Pb≤5ppm CL≤250ppm |
9、 測量時間 ：300-500s (系統自動調整) |
10、 *佳分辨率：149±5eV |
11、 輸入電源：AC 220V±10%，50Hz |
11、額定功率：1500W |
三、X熒光光譜儀技術資料儀器硬件部分主體配置
3.1 探測系統 | |
1、探測器 類型：電制冷Si-PIN探測器 (采用PIN結構的高性能電致冷半導體探測器) 型號：X-123 制造商：美國Amptek公司生產 Be窗厚度：1mil(0.0254mm) *佳分辨率：149±5eV 系統峰背比：≥ 5000/1 能量響應范圍：1keV ~ 40keV 推薦計數率：5000cps（DP4 Peaking Time=25.6us） 典型使用壽命：10年 2、信號處理系統 DP4（與探測器高度集成） 放大器增益自動調整； 脈沖成型時間自動調整； MCA通道數*高可達8K； 每一通道總計數可達24位（16.7M） | |